Электронно-микроскопическая лаборатория

Публикации

1. Колосов В.Ю., Швамм К.Л., Гайнутдинов Р.В., Толстихина А.Л., Комбинированное ПЭМ-АСМ исследование трансротационных сферолитов, растущих в тонких аморфных плёнках, Известия РАН. Серия физическая, т. 71, №10, 2007 с. 1481-1485.
   также на английском Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Gainutdinov R.V., Tolstikhina A.L., Combined TEM-AFM Study of "Transrotational" Spherulites Growing in Thin Amorphous Films, Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics, 2007, Vol. 71, No. 10, pp. 1442-1446
   BibItem

2. Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Gainutdinov R.V., Tolstikhina A.L., Novel transrotational structures: combination of AFM and TEM studies of amorphous-crystalline transformation and interface in thin films, abstracts of 17th International Vacuum Congress, CD-disk, 2007, TFSE10-Or1
   also: Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Gainutdinov R.V., Tolstikhina A.L., Combined AFM-TEM studies of amorphous-crystalline transformation and interface in thin films of Se and Fe₂O₃, Journal of Physics: Conference series, V. 100, 2008
   Link, BibItem

3. Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Steeds J.W., TEM of lattice bending in crystallized areas of anodized Ta-O films, abstracts of 17th International Vacuum Congress, CD-disk, 2007, TFSEP4-270
   also: Journal of Physics: Conference series, V. 100, 2008
   Link, BibItem

4. Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Steeds J.W., Lattice bending in crystallized areas of anodized Ta-O films, Proc. The 16th International Microscopy Congress (IMC16, Sapporo, Japan), 2006, V. 3, p. 1744
   BibItem

5. Kolosov V.Yu., Veretennikov L.M., TEM studies of the microstructure resulted from amorphous-crystalline transition under electron beam irradiation in chalcogenide-based films, Proc. The 16th International Microscopy Congress (IMC16, Sapporo, Japan), 2006, V. 3, p. 1465
   (PDF, ~130kb, )BibItem

6. Колосов В.Ю., Веретенников Л.М., Старцева Ю.Б., Швамм К.Л. Электронно-микроскопические исследования микроструктуры поликристаллических конденсатов на основе халькогенидов: влияние состава и толщины на внутрен-нее искривление кристаллической решётки, Физика и техника полупроводников 2005, т.39, вып. 8, с. 990-994.
   PDF (277kb), BibItem

7. Kolosov V., Schwamm C., Gainutdinov R., Tolstikhina A. Combined TEM-AFM studies of “transrotational” spherulites growing in amorphous films, Proc. of 12th Int. Symp. “Nanostructures: Physics and Technology” St. Petersburg, Russia, 2004, p.166-167,
   PDF, ~300Kb,BibItem

8. Kolosov V. TEM of crystallizing amorphous films: novel "transrotational" structure on the scale micro - meso - nano, Proc. of 13th EMC, Antwerp, 2004, V. II, p. 255-256
   (PDF, ~1Mb), BibItem

9. Kolosov V., Gainutdinov R., Schwamm C., TolstikhinaA. Combination of TEM and AFM: microstructure of spherulites growing in amorphous films, Proc. of 13th EMC, Antwerp, 2004, V. II, p. 253-254
   (PDF, ~900Kb), BibItem

10. Колосов В.Ю., Веретенников Л.М., Швамм К.Л., электронно-микроскопическое исследование роста кристаллов в аморфных плёнках теллур-медь переменного состава и толщины, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. N 1, 2004, 95.
    (PDF, 200kb) BibItem

11. А.Г. Багмут, С.Н. Григоров, В.Ю. Колосов, В.М. Косевич, Г.П. Николайчук, Структура и морфология кристаллов, растущих в аморфных лазерных конденсатах Cr₂O₃, М. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, N 10, 70-76
    (PDF, 376kb), BibItem

12. V.Yu. Kolosov, L. M. Veretennikov Electron microscopy investigation of the influence of thickness on crystal growth in amorphous films of selenium and antimony compounds Surface investigation, 2001, Vol. 16, pp. 361-367
    (PDF, ~760Kb), BibItem

13. Kolosov V. Yu. and Tholen A. R. Transmission electron microscopy studies of the specific structure of crystals formed by phase transition in iron oxide amorphous films, Acta Mater. (2000) 48, 1829-1840
    Link, BibItem

14. Kolosov V.Yu., Tholen A.R., Regularly bent nanocrystals formed in an amorphous film of Fe₂O₃, Nanostructured Materials, 1997, v. 9, p.323-326.
    BibItem

15. Колосов В.Ю., Веретенников Л.М. Электронно-микроскопическое исследование роста кристаллов Sb₂Se₃ в тонких аморфных плёнках Известия РАН, сер. физическая, 1995, Т. 59, N 2, с. 55-59
    BibItem

16. Kolosov V.Yu., Veretennikov L.M., Kuzmin A.A., Mamaev V.A. Tem study of lattice bending in Sb₂Se₃ crystals grown in amorphous films, ICEM-13, Paris, 1994, V. 2a, p. 397-398
    (PDF, ~1Mb), BibItem

17. Kolosov V.Yu. Possibilities of the bend-contour method in the analysis of the lattice disorientations in crystals on thin-film transformations, Proceedings of the ХIIth International Congress for Electron Microscopy, 1990, Seattle, p.574-575
    (PDF, ~330Kb), BibItem

18. Kolosov V. Yu. ТЕМ studies of unusual lattice bending in the crystallites formed in amorphous films by electron beam, EUREM 92, Electron Microscopy, V 2, Granada, Spain, 1992, p. 513-514
    (PDF, ~339Kb), BibItem

19. Bolotov I.E., Kolosov V.Yu, Malkov V.B., Electron microscopy investigation of crystals based on bend-contour arrangement III (formation of subgrain boundaries in dislocation-free crystals of selenium), Phys. stat. sol. V. 95, 1986, p. 377-383
    (PDF, ~1.4Мб, )BibItem

20. Bolotov I.E., Kolosov V.Yu, Kozhin A.V., Electron microscopy investigation of crystals based on bend-contour arrangement II (Bending phenomena of the crystal growth in an amorphous films), Phys. stat. sol., V. 72, 1982, p. 645-654
    (PDF, ~2Мб, )BibItem

21. Bolotov I.E., Kolosov V.Yu, Electron microscopy investigation of crystals based on bend-contour arrangement I (Relations between bend-contour arrangement and bend geometry) Phys. stat. sol. V. 69, 1982, p. 85-96
    (PDF, ~1.2Мб, )BibItem

22. И. Е. Болотов, В. Ю. Колосов Возможности метода экстинкционных контуров в исследовании изгиба тонкоплёночных объектов, Заводская лаборатория, 1982, Т. 48, №11, стр. 53-57
    BibItem