.
|
Публикации
Колосов В.Ю., Швамм К.Л., Гайнутдинов Р.В., Толстихина А.Л., Комбинированное ПЭМ-АСМ исследование трансротационных сферолитов, растущих в тонких аморфных плёнках, Известия РАН. Серия физическая, т. 71, №10, 2007 с. 1481-1485. также на английском Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Gainutdinov R.V., Tolstikhina A.L., Combined TEM-AFM Study of "Transrotational" Spherulites Growing in Thin Amorphous Films, Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics, 2007, Vol. 71, No. 10, pp. 1442-1446 BibItem
Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Gainutdinov R.V., Tolstikhina A.L., Novel transrotational structures: combination of AFM and TEM studies of amorphous-crystalline transformation and interface in thin films, abstracts of 17th International Vacuum Congress, CD-disk, 2007, TFSE10-Or1 also: Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Gainutdinov R.V., Tolstikhina A.L., Combined AFM-TEM studies of amorphous-crystalline transformation and interface in thin films of Se and Fe2O3, Journal of Physics: Conference series, V. 100, 2008 Link, BibItem
Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Steeds J.W., TEM of lattice bending in crystallized areas of anodized Ta-O films, abstracts of 17th International Vacuum Congress, CD-disk, 2007, TFSEP4-270 also: Journal of Physics: Conference series, V. 100, 2008 Link, BibItem
Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Steeds J.W., Lattice bending in crystallized areas of anodized Ta-O films, Proc. The 16th International Microscopy Congress (IMC16, Sapporo, Japan), 2006, V. 3, p. 1744 BibItem
Kolosov V.Yu., Veretennikov L.M., TEM studies of the microstructure resulted from amorphous-crystalline transition under electron beam irradiation in chalcogenide-based films, Proc. The 16th International Microscopy Congress (IMC16, Sapporo, Japan), 2006, V. 3, p. 1465 (PDF, ~130kb, )BibItem
Колосов В.Ю., Веретенников Л.М., Старцева Ю.Б., Швамм К.Л. Электронно-микроскопические исследования микроструктуры поликристаллических конденсатов на основе халькогенидов: влияние состава и толщины на внутрен-нее искривление кристаллической решётки, Физика и техника полупроводников 2005, т.39, вып. 8, с. 990-994. PDF (277kb), BibItem
Kolosov V., Schwamm C., Gainutdinov R., Tolstikhina A. Combined TEM-AFM studies of “transrotational” spherulites growing in amorphous films, Proc. of 12th Int. Symp. “Nanostructures: Physics and Technology” St. Petersburg, Russia, 2004, p.166-167, PDF, ~300Kb,BibItem
Kolosov V. TEM of crystallizing amorphous films: novel "transrotational" structure on the scale micro - meso - nano, Proc. of 13th EMC, Antwerp, 2004, V. II, p. 255-256 (PDF, ~1Mb), BibItem
Kolosov V., Gainutdinov R., Schwamm C., TolstikhinaA. Combination of TEM and AFM: microstructure of spherulites growing in amorphous films, Proc. of 13th EMC, Antwerp, 2004, V. II, p. 253-254 (PDF, ~900Kb), BibItem
Колосов В.Ю., Веретенников Л.М., Швамм К.Л., электронно-микроскопическое исследование роста кристаллов в аморфных плёнках теллур-медь переменного состава и толщины, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. N 1, 2004, 95. (PDF, 200kb) BibItem
А.Г. Багмут, С.Н. Григоров, В.Ю. Колосов, В.М. Косевич, Г.П. Николайчук, Структура и морфология кристаллов, растущих в аморфных лазерных конденсатах Cr2O3, М. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, N 10, 70-76 (PDF, 376kb), BibItem
V.Yu. Kolosov, L. M. Veretennikov Electron microscopy investigation of the influence of thickness on crystal growth in amorphous films of selenium and antimony compounds Surface investigation, 2001, Vol. 16, pp. 361-367 (PDF, ~760Kb), BibItem
Kolosov V. Yu. and Tholen A. R. Transmission electron microscopy studies of the specific structure of crystals formed by phase transition in iron oxide amorphous films, Acta Mater. (2000) 48, 1829-1840 Link, BibItem
Kolosov V.Yu., Tholen A.R., Regularly bent nanocrystals formed in an amorphous film of Fe2O3, Nanostructured Materials, 1997, v. 9, p.323-326. BibItem
Колосов В.Ю., Веретенников Л.М. Электронно-микроскопическое исследование роста кристаллов Sb2Se3 в тонких аморфных плёнках Известия РАН, сер. физическая, 1995, Т. 59, N 2, с. 55-59 BibItem
Kolosov V.Yu., Veretennikov L.M., Kuzmin A.A., Mamaev V.A. Tem study of lattice bending in Sb2Se3 crystals grown in amorphous films, ICEM-13, Paris, 1994, V. 2a, p. 397-398 (PDF, ~1Mb), BibItem
Kolosov V.Yu. Possibilities of the bend-contour method in the analysis of the lattice disorientations in crystals on thin-film transformations, Proceedings of the ХIIth International Congress for Electron Microscopy, 1990, Seattle, p.574-575 (PDF, ~330Kb), BibItem
Kolosov V. Yu. ТЕМ studies of unusual lattice bending in the crystallites formed in amorphous films by electron beam, EUREM 92, Electron Microscopy, V 2, Granada, Spain, 1992, p. 513-514 (PDF, ~339Kb), BibItem
Bolotov I.E., Kolosov V.Yu, Malkov V.B., Electron microscopy investigation of crystals based on bend-contour arrangement III (formation of subgrain boundaries in dislocation-free crystals of selenium), Phys. stat. sol. V. 95, 1986, p. 377-383 (PDF, ~1.4Мб, )BibItem
Bolotov I.E., Kolosov V.Yu, Kozhin A.V., Electron microscopy investigation of crystals based on bend-contour arrangement II (Bending phenomena of the crystal growth in an amorphous films), Phys. stat. sol., V. 72, 1982, p. 645-654 (PDF, ~2Мб, )BibItem
Bolotov I.E., Kolosov V.Yu, Electron microscopy investigation of crystals based on bend-contour arrangement I (Relations between bend-contour arrangement and bend geometry) Phys. stat. sol. V. 69, 1982, p. 85-96 (PDF, ~1.2Мб, )BibItem
И. Е. Болотов, В. Ю. Колосов Возможности метода экстинкционных контуров в исследовании изгиба тонкоплёночных объектов, Заводская лаборатория, 1982, Т. 48, №11, стр. 53-57 BibItem
|